项目名称： 台式X射线衍射仪 项目编号： GY******6
公告开始日期： 2023-11-21 23:52:36 公告截止日期： 2023-11-24 09:00:00
采购单位： 新一代半导体材料研究院 付款方式： 100%信用证，其中90%货款凭装运单据支付，10%尾款凭验收小组签字确认且加盖公章的验收报告支付
到货时间要求： 签订合同5个月内
预算总价： ￥67300.00
收货地址：******大学中心校区新一代半导体材料研究院
采购清单采购商品： 台式X射线衍射仪 采购数量： 1 计量单位： 台 所属分类： 射线式分析仪器
品牌： 日本理学
型号： MinFlex 600-C
预算单价： ￥67300.00
技术参数及配置要求： 1.X射线源：最大输出功率：≥600W最大电压：40kV最大电流：15mA安全防护：？0.2？Sievert/h（离机柜5cm 内）电流电压数字显示超高频电压发生器, 高压稳定度：0.05% (外电压变化10%)2.固定靶：靶材及功率：Cu靶 3.测角仪:转动方式：？/2？ 模式编码盘: 双光学编码盘驱动方式：直流马达驱动步进角度：+/- 0.0001 度测角仪半径: ≥150mm4.基本光学系统光学系统包括：索拉狭缝，发散狭缝，防反射狭缝，接收狭缝等小角衍射狭缝5.样品台5.1 样品台：标准粉末样品台 1个5.2 粉末样品架≥60个5.3 单晶硅无背底样品架2片6.一维阵列计数器6.1 1维全能矩阵探测器6.2 探测器有效面积：≥256mm 2 6.3 背景：低于0.1 cps6.4 0D,1D实时转换 7.计算机系统：7.1 外接独立计算机系统，以保证系统升级方便。7.2 DELL OptiPlex 7000，CPU :I5，8G内存，硬盘1T，显卡：集成 DVD光驱：8X，显示器：27”，双网卡, 鼠标，键盘。7.3遥控诊断系统：直接与主机连接不通过计算机8.内部制冷系统 工作要求：连续工作控温精度：优于±0.5℃具有过热保护系统。9.软件要求：软件为Window10操作平台，可对设备进行自动控制。峰形拟合，背底修正，数据平滑，Kα2剥离，先进的物相鉴定程序，包括使用扫描数据或峰位数据或两者结合，原始数据直接检索，自动对残余峰进行鉴定；可以对图形进行进行缩放，叠加，减差、对比和剪贴；三维图形显示，参考强度法半定量分析，包含Rietveld精修软件。
售后服务： 服务网点:当地;质保期限:1年;响应期限:报修后2小时;
